1、掃描電鏡（SEM）是一種常用的表面形貌和結(jié)構(gòu)分析工具，對于樣品的形態(tài)、表面粗糙度、成分等方面都有較高的要求。以下是掃描電鏡對樣品的一些基本要求：

2、樣品應(yīng)該是干燥的，因?yàn)樗值拇嬖跁?huì)在電子束的轟擊下產(chǎn)生蒸汽，影響觀察效果。

3、樣品應(yīng)該是導(dǎo)電的，因?yàn)榉菍?dǎo)電樣品在電子束的轟擊下會(huì)產(chǎn)生靜電，影響觀察效果。

4、樣品應(yīng)該具有良好的熱穩(wěn)定性，因?yàn)殡娮邮霓Z擊會(huì)導(dǎo)致樣品溫度升高，如果樣品不耐熱，可能會(huì)發(fā)生形變或分解。

5、樣品表面應(yīng)該盡可能平坦，以便更好地觀察形貌和結(jié)構(gòu)。

6、樣品應(yīng)該無磁性，因?yàn)榇判詷悠窌?huì)在電子束的作用下產(chǎn)生磁場，影響觀察效果。

7、對于某些特殊樣品的觀察，可能需要涂覆導(dǎo)電層或鍍膜等處理，以提高觀察效果。

總之，掃描電鏡對樣品的要求較高，需要在實(shí)驗(yàn)前對樣品進(jìn)行充分的測試和評估，以確保觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí)，在觀察過程中也需要注意控制實(shí)驗(yàn)條件，如加速電壓、工作距離、掃描速度等參數(shù)，以獲得Z佳的觀察效果。